技术参数：

1. 靶材：铜靶

2. 量角器半径：150mm

3. 管电压：40KV，15mA

4. 扫描角度范围：2θ为2°-140°

功能特点：

1. 可对粉末、薄膜、纳米材料及块状样品进行多种方式的测试。

2. 主要用于物相定性、半定量分析，晶粒尺寸测定、薄膜物相鉴定。

3. 操作简单，峰位准确。

仪器说明：

理学MiniFlex600型X射线衍射仪具有测角精度高、检测灵敏度高、重复性好等特点，适合测试测试粉末、块状、薄膜样品等。主要应用于混合物相的定性分析；样品的对照分析结晶度分析；晶体物相的定量分析；薄膜材料的研究等。 该仪器面向天大材料学院、化工学院、理学院等各学院及多家校外企事业单位提供了测试服务。

X射线衍射仪样品制备要求：

1. 粉末样品：

粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径1-50μm（大尺寸块体需研磨后过250目筛），粉末样品量约需1g。

2. 块状样品：

块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤15mm，长度＜20mm。

3. 特殊样品：

特殊样品要求：非上述常规样品，例如极少量的粉末、尺寸很小的条带样品或是超薄的聚合物或是高分子薄膜样品等，样品制备可以咨询相关老师。

预约送样流程：

请登陆天津大学大型仪器管理平台(yiqi.tju.edu.cn)，搜索设备编号：2012007614，进入使用预约界面预约选择所需测试时间段。本仪器最早可提前7天预约。