技术参数：

1. 靶材：铜靶

2. X射线光源：线焦（0.4cm*1.2cm）

3. 管电压：40KV，40mA

4. 扫描角度范围：2θ为2°-140°

5. 环境加热原位分析腔体： 工作温度范围：室温~800℃，控温精度：+/-0.1℃

6. 直接加热原位分析腔体： 工作温度范围：室温~1800℃，控温精度：+/-0.1℃

功能特点：

1. 可对粉末、薄膜、纳米材料及块状样品进行多种方式的测试。

2. 主要用于物相定性、半定量分析，晶粒尺寸测定、薄膜物相鉴定。

3. 操作简单，峰位准确。

4. 高温原位X射线衍射分析。

5. 残余应力分析。

仪器说明：

D8 Advance型X射线粉末衍射仪样品台水平固定，测试粉末、块状、薄膜样品等。配置有高温（室温~1800度）附件、尤拉环等附件。主要应用于混合物相的定性分析；样品的对照分析；晶体物相的定量分析；晶体材料微结构的表征（晶胞参数的测定，晶粒大小等）；薄膜材料的研究等。此外，本仪器还开放高温原位X射线衍射分析和残余应力分析。 该仪器面向天大材料学院、化工学院、理学院等各学院及多家校外企事业单位提供了测试服务。

X射线衍射仪样品制备要求：

1. 粉末样品：

粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径1-50μm（大尺寸块体需研磨后过250目筛），粉末样品量约需1g。

2. 块状样品：

普通块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度＜15mm，直径＜30mm。

残余应力样品要求：测试面清洁平整，板状或片状，测试方向长度大于宽度2倍，厚度＜6mm，长＜30mm。

高温样品要求：样品清洁平整，厚度≤1mm，直径≤12mm。

3. 特殊样品：

特殊样品要求：非上述常规样品，例如极少量的粉末、尺寸很小的条带样品或是超薄的聚合物或是高分子薄膜样品等，样品制备可以咨询相关老师。

预约送样流程：

请登陆天津大学大型仪器管理平台(yiqi.tju.edu.cn)，搜索设备编号：2017016553，进入使用预约界面预约选择所需测试时间段。本仪器最早可提前7天预约。

残余应力及高温原位测试安排在每月月底，如需测试请至少提前1周与仪器负责人联系。