技术参数：

1.点分辨率：0.23nm

2.线分辨率：0.10nm

3.倾斜角： X/Y：≥±35°/30°

4.STEM分辨率：0.16nm

功能特点：

1.高亮度场发射电子枪。

2.束斑尺寸小于0.5nm。

3.配备STEM探头、背散射探头及二次电子探头。SEI图像、BF、DF和HAADF图像采集的无缝式切换。

4.配备电制冷能谱探头，进行能谱分析，结合STEM可进行面扫描、线扫描分析。

仪器说明：

JEM-F200F场发射透射电子显微镜不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；粉末、纳米粒子形态和粒度测定以及复合材料界面特性的研究。

TEM样品要求：

1.无磁性样品，对电子束透明，样品厚度一般要求在100纳米以下（电子束穿透固体样品厚度主要取决于：加速电压和样品原子序数）。

2. 固体、干燥、无油、无磁性。

3. 样品在高真空中能保持稳定，. 不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去。

4. 粉末样品通常分散在合适溶剂中，滴制在直径为3mm的载网上；双喷或是离子减薄制备得到TEM块状样品直径也为3mm；FIB制备样品为3mm的半圆形样品。

预约送样流程：

1. 预约：请登陆天津大学大型仪器管理平台(yiqi.tju.edu.cn),可预约一周以后的工作时间（9:00-12:00；13:00-16:00），外学院只可预约周二与周五时间。

2. 无账号用户：电话沟通。