技术参数：

1. 扫描范围：＜90 μm

2. 分辨率：水平分辨率小于1nm

       垂直分辨率小于0.01nm

功能特点：

1. 主要用于测定有纳米材料形貌、厚度，薄膜材料表面粗糙度等各种类型样品的表面状态信息。

2. 采用磁力驱动轻敲模式MAC mode^TM—“轻微接触”技术，可提供单个分子的高分辨成像。

3. 同一次测试可得到形貌、振幅、相位等多种信息。

仪器说明：

原子力显微镜由于能观测非导电样品的表面状态信息，因此具有更为广泛的适用性。Agilent  5500由先进的高度模块化的显微镜合功能强大的用户可编程的控制器结合而成。它具有上下倒置的扫描头、独特的样品台以及巧妙的结构设计，主要应用于材料、生物、物理及化学等领域的形貌研究。

原子力显微镜样品制备要求：

待测样品一般制备在云母片或者硅片上，建议提前一天制样以保证样品干净、新鲜。

云母片的使用：第一次使用时，先将云母片固定在2.5cm×2.5cm的玻璃片上。每次使用时需用双面胶或透明胶带将最上面一层的云母片撕掉，方能在新鲜的云母片上制样。

硅片的使用：硅片在使用前需用酸、碱、超纯水依次反复超声清洗以保证洁净。

1. 粉末样品：

若是纳米颗粒样品，先用一定的分散剂超声分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后测试。首先将粉末样品加入在溶剂中（一般为超纯水或乙醇），浓度控制在40mg/ml以下，超声分散，分散好的溶液滴到云母片或硅片上，用N2吹扫。将制好的样品放在表面皿中，半掩盖子，通风橱自然风干，防止进灰。

如果样品表面有无机盐，先用水等清除盐分后来测试，因为盐分结晶影响形貌的扫描。

由于AFM测试浓度不好掌握，第一次测试时可按梯度多制备几个样品。

2. 薄膜样品：

可按照所需实验工艺制备薄膜样品。薄膜厚度测试，预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。

3. 本仪器样品在大气环境中检测导体、半导体、绝缘体以及生物样品的形貌表征，硅片及玻璃片尺寸不得小于1cm×1cm。

预约送样流程：

请登陆天津大学大型仪器管理平台(yiqi.tju.edu.cn)，搜索设备编号：20074674，进入使用预约界面预约选择所需测试时间段备注测试样品合扫描范围。本仪器最早可提前7天。